English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Rohde & Schwarz приглашает Вас посетить ежегодную III Всероссийскую научно-техническую конференцию «Электроника и микроэлектроника СВЧ»

Компания Rohde & Schwarz приглашает Вас посетить ежегодную III Всероссийскую научно-техническую конференцию «Электроника и микроэлектроника СВЧ»

02.06.2014

Компания Rohde & Schwarz приглашает Вас со 2 по 5 июня 2014 года посетить ежегодную III Всероссийскую научно-техническую конференцию «Электроника и микроэлектроника СВЧ».

На конференции специалисты компании выступят с докладами по темам:

  • «Решения от компании Rohde & Schwarz по измерению характеристик элементов для радиоэлектронной промышленности»;
  • «Измерение параметров нелинейных устройств на оборудовании Rohde&Schwarz и Mesuro».

В рамках конференции пройдет выставка, на которой вы сможете ознакомиться с новинками контрольно- измерительного оборудования Rohde & Schwarz и провести интересующие Вас измерения.

Конференция пройдёт по адресу: Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина) (СПбГЭТУ), г. Санкт-Петербург, улица Профессора Попова, д.5.

По дополнительным вопросам можно обратиться к Беззубовой Евгении:
Тел.:+7(812)448-65-08 или E-mail: Evgenia.Bezzubova@rohde-schwarz.com

Для регистрации необходимо перейти на сайт конференции

Rohde & Schwarz


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"