English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(513)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(591)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(490)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Оценка качества системы МЭК для электронных компонентов – конференция в Росстандарте

Оценка качества системы МЭК для электронных компонентов – конференция в Росстандарте

31.05.2014

13 мая 2014 года в Росстандарте состоялась международная конференция «Оценка качества системы МЭК для электронных компонентов».

Организаторы мероприятия: Росстандарт, Международная электротехническая комиссия (МЭК), ОАНО «Регистр системы сертификации персонала» и РНИИ «Электронстандарт».

На конференции обсуждались актуальные аспекты международного признания оценки соответствия отечественных изделий электронной компонентной базы (ЭКБ), а также вопросы стандартизации, членства России в Международной системе сертификации электронных компонентов МЭК (Система МЭК ЭК /IECQ IEC), обеспечения и контроля качества ЭКБ и возможности поставок за рубеж перспективных изделий ЭКБ, разрабатываемых и производимых на предприятиях России.

Изделия (ЭКБ) используются для производства радиоэлектронной аппаратуры, систем связи и телекоммуникаций.

Открывший конференцию Заместитель Руководителя Росстандарта Александр Зажигалкин отметил, что МЭК уделяет большое внимание вопросам оценки соответствия и присутствующие на конференции имеют уникальную возможность ознакомиться с международным опытом в этой области. А. Зажигалкин подчеркнул важность обеспечения и контроля качества продукции и роль стандартизации в этом процессе.

С докладами на конференции выступили Аллан Стив, представитель системы МЭК ЭК/IECQ IEC и Наталия Коломенская, заместитель генерального директора РНИИ "Электронстандарт".

В конференции приняли участие представители более 20 организаций производителей ЭКБ, студенты МАИ и др.

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (РОССТАНДАРТ) www.gost.ru


О компании:  Росстандарт

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.01.1880
Родился австрийский и нидерландский физик-теоретик