English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Лаборатория СВЧ параметров Национального Института метрологии Китая выбирает широкополосную систему VectorStar компании Anritsu

Лаборатория СВЧ параметров Национального Института метрологии Китая выбирает широкополосную систему VectorStar компании Anritsu

20.06.2014

Подразделение по разработке ВЧ/СВЧ измерительных устройств (Microwave Measurement Division, MMD) корпорации Anritsu заявило о выборе лабораторией СВЧ параметров Национального Института метрологии Китая (National Institute of Metrology, NIM) в пользу широкополосной системы векторного анализа цепей (Vector Network Analyzer, VNA) Anritsu VectorStar™ ME7838A с частотой до 110 ГГц. Лаборатория будет использовать продвинутое тестовое решение при разработке стандартов для выполнения калибровок на пластинах.

По заявлению заведующего лабораторией доктора КсинМенг Лю, широкополосный векторный анализатор цепей VectorStar ME7838A был выбран благодаря его широкому частотному диапазону от 70 кГц до 110 ГГц, превосходному динамическому диапазону и стабильности калибровки, очень низкому уровню зашумленности измерительной трассы и высокой повторяемости измерений. Это решение планируется использовать как часть инициативы по разработке национального эталона комплексных коэффициентов отражения и передачи.

«Эта система отвечает внутренним потребностям электронной промышленности в части обеспечения единства измерений параметров в миллиметровых диапазонах. В модуле умножителя частоты миллиметрового диапазона анализатора VectorStar ME7838A были использованы самые передовые технологии, что позволило получить весьма легкое и малогабаритное устройство. Кроме того, для проведения измерений на пластинах компактные размеры и 1,0-мм коаксиальный соединитель позволяют напрямую подключаться к 1,0-мм коаксиальным разъемам наконечника СВЧ зонда. Исключение кабельного соединения между модулем миллиметрового диапазона и зондом обеспечивает самый высокий динамический диапазон измерений, благодаря чему ME7838A является наиболее подходящим решением для проведения измерений на пластинах», — отметил доктор КсинМенг Лю.

Анализатор VectorStar ME7838A является наиболее точным решением для измерения коэффициента шума в диапазоне выше 65 ГГц, доступным в Китае. Лучшая в своем классе производительность достигнута, в частности, благодаря новому модулю приемника миллиметрового диапазона 3744A-Rx, специально оптимизированному под измерения коэффициента шума. Кроме того, для достижения высокой точности результатов в VectorStar ME7838A применена методика холодного источника, используемая для измерения коэффициента шума до 125 ГГц.

«Для нас большая честь, что VectorStar ME7838A был выбран Национальным Институтом метрологии Китая, поскольку этот известный институт начинает разрабатывать для Китая метрологический стандарт параметров в области миллиметровых волн. Компания Anritsu располагает богатыми традициями в разработке передовых VNA-решений, отвечающих потребностям промышленности. VectorStar — наша последняя инновация, особенно отвечающая требованиям высокочастотных измерений, предъявляемым инженерами по всему миру», — сказал Донн Малдер (Donn Mulder), генеральный директор подразделения по разработке измерительных устройств (MMD).

Anritsu Corporation


О компании:  Anritsu

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
14.12.1922
Родился советский физик