English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(438)
Новости Anritsu(97)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(519)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(395)
Новости Tektronix(185)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(71)
Новости Росстандарта(96)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Anritsu начинает сотрудничество с компанией Elliptika с целью создания учебного комплекта СВЧ аппаратуры для студентов технических специальностей

Anritsu начинает сотрудничество с компанией Elliptika с целью создания учебного комплекта СВЧ аппаратуры для студентов технических специальностей

21.07.2014

Компания Anritsu, ведущий мировой разработчик решений для тестирования ВЧ и СВЧ систем, объявляет о начале сотрудничества с группой Elliptika, в рамках которого разрабатывается оригинальный инновационный учебный комплект СВЧ аппаратуры под названием Eductika, предназначенный для студентов средних и высших учебных заведений. Портативные векторные анализаторы цепей серии VNA Master™ входят в состав комплексного готового решения, которое может использоваться преподавателями для обучения студентов основам ВЧ и СВЧ технологий.

«Взрывное развитие ВЧ и СВЧ технологий, вызванное широким распространением беспроводных услуг, обусловливает важность понимания студентами процессов, происходящих при передаче цифровых данных посредством ВЧ технологий. Eductika объединяет семейство компактных приборов Anritsu VNA Master в инновационное решение, позволяющее студентам на практике освоить теоретические основы ВЧ технологий, а также методы их моделирования, внедрения и оценки. Теперь у преподавателей есть готовое решение, в котором используется современный подход, полностью отвечающий методам и средствам, применяемым в отрасли», — заявил Дейв Болан (Dave Bolan), менеджер по маркетингу портативных приборов Anritsu.

Учебные комплекты Eductika, предназначенные для изучения основных принципов, состоят из базовых наборов пассивных СВЧ элементов и векторного анализатора цепей Anritsu VNA Master. Студенты технических специальностей смогут использовать комплекты для изучения физических принципов работы микрополосковых линий и устройств, согласованных по импедансу, измерения и синтезирования характеристик базовых компонентов (ответвители, делители мощности, полосовые фильтры и фильтры нижних частот, короткозамкнутые и разомкнутые шлейфовые фильтры, транзисторы, патч-антенны и т. д.), а также для изучения функций высокой сложности. Студенты ознакомятся с распространенными СВЧ устройствами, разработанными по планарной технологии, и изучат средства и задачи математического синтеза применительно к измерению характеристик данных устройств.

Eductika позволяет студентам полностью или частично строить пассивные СВЧ блоки из базовых элементов по принципу мозаики. Завершенная мозаика состоит из идентифицируемых по полному сопротивлению и длине микрополосковых линий, которые связываются соединительными элементами, например, T-образным разветвлением, перекрестным соединением или прямым соединением обеих линий.

Компания Elliptika разработала учебный комплект Eductika для подготовки студентов к условиям быстро развивающегося рынка беспроводных технологий, в частности, сегмента СВЧ решений. Комплект предназначен для студентов, изучающих электронику, и преподавательского состава, но также будет полезен и для технических специалистов и инженеров. Учебные комплекты ориентированы на микрополосковые пассивные устройства, активные устройства и антенны.

Anritsu Corporation


О компании:  Anritsu

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений