English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

DesignCon 2015

DesignCon 2015

23.10.2014

DesignCon 2015 – это 20-я юбилейная выставка и конференция по полупроводникам и технической разработке электронных устройств и приборов. Ведущее мероприятие отрасли, организованное инженерами для инженеров.

Ежегодно тысячи технических специалистов в области полупроводников и электронного инженерного проектирования приезжают, чтобы посмотреть на новейшие технологии и узнать о последних достижениях промышленности.

Посмотреть деловую программу DesignCon 2015 можно здесь.

В рамках DesignCon пройдёт церемония награждения победителей конкурса Best in Test, который ежегодно проводится сообществом Test & Measurement World. Награждаться будут инновационные разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии.

Пройти регистрацию можно по данной ссылке.

Официальный сайт DesignCon 2015


Дата открытия:  27.01.2015
Дата закрытия:  30.01.2015
Место проведения:  Санта-Клара, Калифорния, США; Santa Clara Convention Center
Организаторы:  UBM Tech

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.12.1852
день рождения
Выставки