English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(419)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ElectroTest Japan 2015

ElectroTest Japan 2015

13.01.2015

С 14 по 16 января пройдёт 32-ая по счёту международная выставка ElectroTest Japan 2015, на которой будут представлены все виды контрольно-измерительных приборов и систем, применяемых в производстве электроники, печатных плат и интегральных схем.

На выставке будут представлены:

  • Технологии и оборудование для измерения и контроля
  • Рентгеновское оборудование
  • Тестеры
  • Сканеры
  • Автоматизированные системы контроля
  • Оптическое оборудование
  • Лабораторное оборудование
  • Термометры
  • Микроскопы
    и многое другое

Сайт выставки - www.electrotest.jp/en/.


Дата открытия:  14.01.2015
Дата закрытия:  16.01.2015
Место проведения:  Япония, Токио, Tokyo Big Sight
Организаторы:  Reed Exhibitions Japan Ltd.

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки