English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(641)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(536)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ElectroTest Japan 2015

ElectroTest Japan 2015

13.01.2015

С 14 по 16 января пройдёт 32-ая по счёту международная выставка ElectroTest Japan 2015, на которой будут представлены все виды контрольно-измерительных приборов и систем, применяемых в производстве электроники, печатных плат и интегральных схем.

На выставке будут представлены:

  • Технологии и оборудование для измерения и контроля
  • Рентгеновское оборудование
  • Тестеры
  • Сканеры
  • Автоматизированные системы контроля
  • Оптическое оборудование
  • Лабораторное оборудование
  • Термометры
  • Микроскопы
    и многое другое

Сайт выставки - www.electrotest.jp/en/.


Дата открытия:  14.01.2015
Дата закрытия:  16.01.2015
Место проведения:  Япония, Токио, Tokyo Big Sight
Организаторы:  Reed Exhibitions Japan Ltd.

Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
14.04.1629
День рождения
Выставки