English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(540)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(626)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(526)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(109)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Международная Выставка Измерений и Технологий "Микротехнологии"

Международная Выставка Измерений и Технологий "Микротехнологии"

10.06.2009

Сегодня трудно назвать область человеческой деятельности, где современные микротехнологии не являлись бы критически важными, и тематика выставки отражает инновационное развитие всего реального сектора отечественной экономики. В прошлом году в экспозиции был представлен широкий спектр разработок в этой области. Неограниченные возможности для общения специалистов предоставит деловая программа выставки «Микротехнологии», включающая разнообразные семинары, круглые столы, конференцию. Выставка – это не только смотр достижений отрасли, но и рабочая площадка, где происходит обмен опытом, обсуждаются проблемы и возможности сотрудничества. В рамках Международной Выставки Измерительного Оборудования и Технологий 14-15 октября пройдет специализированная конференция "Инновации, Промышленность, Финансы" состоящая из трех разделов: контрольно-измерительное оборудование, датчики и измерения, нанотехнологии. Тематика выставки: МИКРОСИСТЕМНАЯ ТЕХНОЛОГИЯ, ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ УСТРОЙСТВА, ВСТРОЕННЫЕ СИСТЕМЫ, ДАТЧИКИ И МИКРОСИСТЕМЫ, ОБОРУДОВАНИЕ И ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ - ТЕСТИРОВАНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ, НАНОМАТЕРИАЛЫ И НАНОТЕХНОЛОГИИ


Дата открытия:  14.10.2009
Дата закрытия:  16.10.2009
Место проведения:  Москва. ЦВК "Экспоцентр", павильон №5
Организаторы:  ООО "Фор-Экспо"  / "Novex Ltd."

Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.11.1894
Родился американский ученый,математик, один из создателей кибернетики
Выставки