English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(419)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

SIBCON 2016

SIBCON 2016

13.10.2015

Двенадцатая IEEE-Сибирская конференция, посвящённая современным достижениям в области разработки и создания систем управления и связи, пройдет с 12 по 14 мая 2016 года в г. Москва, Россия. Конференция регулярно организуется Красноярской и Томской группой и студенческим отделением IEEE для того, чтобы поддерживать междисциплинарные дискуссии и взаимодействие среди учёных и инженеров и стимулировать их членство в Институте IEEE.

Труды конференции как издание IEEE будут опубликованы в виде полных статей на английском языке и распространены среди участников конференции. Труды имеют официальную регистрацию в базе электронных публикаций IEEE Xplore. Труды индексируются основными научными базами (WoS, Scopus и пр). Статьи на русском языке публикуются в сборнике трудов конференции, но в IEEE Xplore не включаются.

Авторы лучших докладов будут премированы. Отбор статей проводится научным программным комитетом. Будут рассматриваться только оригинальные неопубликованные работы.

Конференция входит в календарь IEEE.

В рамках конференции состоится семинар "Технологии National Instruments для образования, науки и промышленности".

Регистрация
Сайт конференции


Дата открытия:  12.05.2016
Дата закрытия:  14.05.2016
Место проведения:  НИУ ВШЭ, г. Москва, ул. Таллинская, д. 34
Организаторы:  Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики» / Томская группа и студенческое отделение Сибирской секции Института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике (IEEE) / Красноярская научная группа IEEE / National Instruments

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки