English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(419)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(506)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(380)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

DesignCon 2016

DesignCon 2016

20.11.2015

21-я выставка и конференция по полупроводникам и технической разработке электронных устройств и приборов DesignCon 2016 пройдёт в Санта Кларе, штат Калифорния, США. Это ведущее мероприятие отрасли, организованное инженерами для инженеров.

Даты выставки:
Конференция: 19-21 января, 2016 г.
Выставка: 20-21 января, 2016 г.

Ежегодно тысячи технических специалистов в области полупроводников и электронного инженерного проектирования приезжают, чтобы посмотреть на новейшие технологии и узнать о последних достижениях промышленности.

Деловая программа мероприятия доступна по данной ссылке.

В рамках DesignCon пройдёт церемония награждения победителей конкурса Best in Test, который ежегодно проводится сообществом Test & Measurement World.

Зарегистрироваться на выставку.

Официальный сайт DesignCon 2016


Дата открытия:  19.01.2016
Дата закрытия:  21.01.2016
Место проведения:  Санта-Клара, Калифорния, США; Santa Clara Convention Center

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"
Выставки