English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Metromeet 2010

Metromeet 2010

15.02.2010

6-я Международная конференция по промышленной метрологии METROMEET пройдет с 25 по 26 февраля в городе Бильбао, Испания. На конференции будет представлена информация о новейших технологиях и разработках в секторе промышленной метрологии. Здесь можно познакомиться с новейшими методиками и формулами для повышения качества производственного процесса и его эффективности.  

Среди тем конференции:

  • метрологическое программное обеспечение;
  • нанометрология;
  • промышленная метрология;  
  • калибровка и поверка.
  • и многое другое


Подробнее о конференции: www.metromeet.org  


Дата открытия:  25.02.2010
Дата закрытия:  26.02.2010
Место проведения:  г.Бильбао, Испания

Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ
Выставки