English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Датчики и Измерения 2008

Датчики и Измерения 2008

14.01.2008

II Ежегодная специализированная выставка.

Основные разделы мероприятия:
Измерения: физических величин и технологических параметров, геометрических величин, механических и динамических параметров, температурных и теплофизических величин, атмосферных и метеорологических параметров, оптических и акустических величин
Датчики: в системах сбора, измерений и испытаний, в системах локального контроля, в системах мониторинга измерительных приборах, в промышленной автоматизации (автоматики), в системах энергосбережения, в системах водоснабжения и водоподготовки и т.д.

Электрические и электронные приборы и аппаратура
Испытательное оборудование для гидравлического и термического применения
Испытательное и аналитическое оборудование
Аппаратура и приборы исследовательских лабораторий
Гидрометеорологические измерительные приборы и приборы контроля загрязнений среды


Дата открытия:  14.10.2008
Дата закрытия:  16.10.2008
Место проведения:  Москва, ЦВК "Экспоцентр", 5 павильон
Организаторы:  Компания Фор-Экспо

Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения
Выставки