English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Российская Неделя Контрольно-Измерительного Оборудования KIP|Expo - 2008

15.01.2008

Выставочный проект посвященный контрольно - измерительному оборудованию.

Выставка проходит в ЦВК "Экспоцентр". Ведущие компании представляют лидирующие разработки в области контрольно-измерительного приборостроения, а так же в области систем построения и организации процессов контроля, измерений и АСУ в основных отраслях промышленного сектора.

Главное надо иметь в виду, что развитой комплекс контроля всех стадий промышленного производства лежит в основе любой системы управления качеством и мониторинга внутренней и окружающей среды предприятия.

Тематика мероприятия:средства измерения физических величин и технологических параметров, геометрических величин, механических величин,динамических параметров, температурных и теплофизических величин,атмосферных и метеорологических параметров,оптических и акустических величин, электрических и магнитных величин, физико-химического состава и свойств веществ и материалов, услуги по измерению и тестированию, услуги в области испытаний и исследований, услуги по определению качества и сертификации, услуги по калибровке приборов, технические консультации



Дата открытия:  14.10.2008
Дата закрытия:  16.10.2008
Место проведения:  Москва, ЦВК "Экспоцентр", 5 павильон
Организаторы:  Компания Фор-Экспо

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
Выставки