English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(418)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Метрология–2008

01.02.2008

Приглашаем предприятия и организации принять участие в 4-ой Международной специализированной выставке-конкурсе средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология–2008», которая пройдет с 03 по 05 июня 2008 года на территории ВВЦ и традиционно приурочена к Международному Дню Метрологии.

Организатором мероприятия является Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии при содействии Департамента оборонной промышленности и высоких технологий Правительства Российской Федерации. Работа оргкомитета выставки пройдет под председательством заместителя Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии Крутикова В.Н.

Необходимо отметить, что большой спектр компаний-участников и широкая номенклатура средств измерений, представленных на выставке в 2007 году, свидетельствует о набирающем темпе роста влияния метрологической отрасли на все сферы и направления хозяйственной деятельности. В работе выставки «Метрология–2007» приняли участие более 120 российских и иностранных компаний, зарегистрировано 12820 посетителей из 4117 организаций.
На выставке «Метрология–2008» будут представлены развернутые коллективные экспозиции: региональных ЦСМ, учреждений научно-технического комплекса, работающих в сферах нанотехнологий, лазерных и навигационных систем, аэрокосмических и оборонных технологий; институтов и предприятий, подведомственных Ростехрегулированию.

Российские и иностранные компании смогут принять участие в конкурсной программе «За единство измерений», которая уже 2-ой год проводится на базе экспертной комиссии ФГУ «Ростест-Москва». По итогам конкурса средствам измерений (СИ), отвечающим современным требованиям и подтвердившим свои высокие метрологические характеристики, будут присваиваться сертификат «Знак качества СИ» и Золотая медаль «За единство измерений».
В рамках выставки традиционно пройдут семинары по наиболее актуальным вопросам и темам федеральных программ, подготовленные профильными научно-исследовательскими институтами.


Дата открытия:  03.06.2008
Дата закрытия:  05.06.2008
Место проведения:  на территории ВВЦ
Организаторы:  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки