English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(418)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Pittcon 2017

Pittcon 2017

15.11.2016

Международная конференция и выставка контрольно-измерительной аппаратуры Pittcon 2017 пройдёт в Чикаго, шт. Иллинойс, США, с 5 по 9 марта.

Экспонируемое оборудование будет подразделяться по следующим категориям:

  • Оборудование и программное обеспечение
  • Лабораторная техника
  • Интегрированные электронные системы
  • Тестирование
  • Новейшие методы и технологии анализа
  • Электронные измерительные системы
  • Системы контроля и производственные испытания
  • Испытательное оборудование.

Насыщенная программа мероприятия будет включать в себя многочисленные симпозиумы, сессии, презентации и круглые столы. Деловая программа выставки доступна по ссылке.

Зарегистрироваться можно на сайте выставки

Официальный сайт


Дата открытия:  05.03.2017
Дата закрытия:  09.03.2017
Место проведения:  Чикаго, шт. Иллинойс, США; McCormick Place
Организаторы:  The Pittsburgh Conference on Analytical Chemistry and Applied Spectroscopy, Inc.

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки