English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(418)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(239)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Международная конференция NCSL 2010

Международная конференция NCSL 2010

29.06.2010

Международная конференция NCSL 2010 в этом году посвящена инновациям 21-го века в метрологии.

Любая научно-техническая деятельность связана с созданием новых и уникальных направлений для развития инноваций в измерениях. В независимости от того, работаете ли вы в коммерческих калибровочных или испытательных лабораториях, государственных метрологических институтах, организациях по аккредитации или на производстве контрольно-измерительного оборудования, Вам необходимо быть в курсе инноваций в области измерений, которые произошли или произойдут в Вашей области в 21 веке.


Тема конференции: «Инновации 21-го века в метрологии».


Сокращение "NCSL" расшифровывается как "Национальная конференция по лабораториям стандартов".

Подробнее о конференции можно узнать по ссылке: www.ncsli.org/conference


Дата открытия:  25.07.2010
Дата закрытия:  29.07.2010
Место проведения:  Род-Айлендский конгресс-центр, Провиденс, Род-Айленд, США

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки