English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(535)
Новости Anritsu(116)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(619)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(86)
Новости Rohde & Schwarz(521)
Новости Tektronix(210)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(105)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Autotestcon 2010

Autotestcon 2010

03.08.2010

IEEE AUTOTESTCON является крупнейшей в США конференцией, посвященной системам автоматического тестирования для американских военных систем и проводится ежегодно с 1965 года. Конференции, чья основная тема – технологии систем поддержки, проводится в разных городах США каждую осень. На конференции ежегодно представлены более 120 тематических докладов и более чем 250 экспонентов.

Участники конференции смогут:

  • принять участие в дискуссии о новых технологиях определения готовности системы
  • обсудить с коллегами и специалистами отрасли меняющиеся потребности клиентских приложений
  • узнать об инновационных технических и управленческих подходах
  • осмотреть более чем 250 стендов представленных компаний
  • прослушать доклады ведущих специалистов в области автоматизированного тестирования


Более подробную информацию о конференции можно узнать на сайте: www.autotestcon.com


Дата открытия:  13.09.2010
Дата закрытия:  16.09.2010
Место проведения:  Орландо, Флорида, США
Организаторы:  IEEE

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
30.09.1882
День рождения
Выставки