English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(418)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(239)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

CONTROL&DIAGNOSTIC-2017

CONTROL&DIAGNOSTIC-2017

18.01.2017

6-я выставка промышленного оборудования и приборов для технической диагностики и экспертизы.

Тематика выставки:

  • Техническое диагностирование и неразрушающий кон­т­роль.
  • Визуально-оптический и измерительный контроль.
  • Инфракрасная диагностика.
  • Поисковое и испытательное оборудование.
  • Электротехническое оборудование.
  • Мобильные диагностические лаборатории.
  • Вибрационный мониторинг. Методы, средства, программное обеспечение.
  • Приборы для контроля технологических процессов и промышленных выбросов.
  • Средства для калибровки и поверки.

Специальный раздел:

Безопасность промышленных объектов и охрана труда

  • Приборы для измерения параметров окружающей среды и производственных факторов.
  • Газоанализаторы воздуха рабочей зоны.
  • Газоанализаторы промышленных выбросов.
  • Датчики (сенсоры).
  • Анализаторы жидкости.
  • Анализаторы состава воды.
  • Расходомеры.
  • Автоматизация. Средства поверки.

Среди посетителей выставки: Руководители подразделений, лабораторий, специалисты в области НК, дефектоскописты, энергетики, специалисты инженерно-технических служб, геологоразведки, геодезии, технических служб в области строительства, эксплуатации, мониторинга сооружений, и дорог, эксперты по промышленной безопасности и техническому надзору, представители ПиНИО и мн. др.

Выставка пройдёт в рамках 13-го Московского международного инновационного форума и выставки «Точные измерения – основа качества и безопасности»


Дата открытия:  17.05.2017
Дата закрытия:  19.05.2017
Место проведения:  г. Москва, ВДНХ, павильон № 75
Организаторы:  Вэстстрой Экспо

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки