English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(535)
Новости Anritsu(115)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(617)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(85)
Новости Rohde & Schwarz(520)
Новости Tektronix(209)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(105)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Metromeet 2011

Metromeet 2011

18.01.2011

7-я Международная конференция по промышленной метрологии METROMEET пройдет с 31 марта по 1 апреля в городе Бильбао, Испания. На конференции будет представлена информация о новейших технологиях и разработках в секторе промышленной метрологии.

В течение двух дней мировые лидеры в секторе промышленной метрологии расскажут о способах повышения качества продукции и эффективности ее производства. Здесь можно познакомиться с современными методиками и формулами для повышения качества производственного процесса и его эффективности.

В рамках METROMEET проводится форум для обсуждения метрологии и ее развития в быстро меняющейся отрасли.

Среди тем конференции:

  • метрологическое программное обеспечение;
  • нанометрология;
  • промышленная метрология;
  • калибровка и поверка.
  • и многое другое

Подробнее о конференции: www.metromeet.org


Дата открытия:  31.03.2011
Дата закрытия:  01.04.2011
Место проведения:  Бильбао, Испания
Организаторы:  FARO / RENISHAW  / AAT CAPPS

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.09.1819
Родился французский физик, создатель гироскопа и маятника
18.09.1907
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии
Выставки