English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Embedded World 2011

Embedded World 2011

18.01.2011

Embedded World – крупнейшая выставка и конференция, посвященная встраиваемым технологиям. Основная направленность мероприятия – презентация новых технологий и ноу-хау, а также консультации и доклады специалистов в области встраиваемых систем.

Конференция Embedded World 2011 года представит участникам новые идеи, воплощенные разработчиками встраиваемых систем в последние месяцы, для первой демонстрации и обсуждения. Будут рассмотрены инновационные решения в области аппаратного и программного обеспечения и измерительного оборудования, разработанные за прошедший год. 

Программа конференции состоит из большого числа представленных презентаций и технических докладов. В формировании программы приняли активное участие Фраунгоферский институт интегральных схем (IIS - Fraunhofer Institute for Integrated Circuits) г. Эрланген, а также Фраунгоферский институт компьютерной архитектуры и программного обеспечения (FIRST) в Берлине. Участники конференции могут ожидать работы, задающие будущие стандарты, но в то же время отражающие реальные потребности и ориентированные на их решение. 

Подробнее о программе конференции, а также об условиях участия, можно узнать на сайте www.embedded-world.eu

Дата открытия:  01.03.2011
Дата закрытия:  03.03.2011
Место проведения:  Нюрнберг, Германия

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
Выставки