English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(419)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(506)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(240)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(380)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

VIT EXPO 2011

VIT EXPO 2011

24.03.2011

3-я специализированная выставка «VIT EXPO 2011 — ПРОМЫШЛЕННАЯ ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ, МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ И БЕСКОНТАКТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ» посвящена перспективному инновационному направлению в мире компьютерных технологий — машинному зрению, скоростной видеосъемке и промышленной обработке изображений, а также сопряженным технологиям бесконтактных измерений.

Основные разделы:

  •  Системы распознавания и анализа изображений;
  •  Высокоскоростные и промышленные видеокамеры;
  •  Компоненты систем машинного зрения;
  •  Бесконтактные измерения (лазерные, оптико-лазерные, оптоэлектронные);
  •  Промышленная видео- и оптическая эндоскопия.

В выставке принимают участие компании из России, Германии, Китая, Нидерланд, США, Южной Кореи.

С кратким анонсом экспонируемых систем и технологий можно ознакомиться по адресу: http://www.rual-expo.ru/vit/


Дата открытия:  20.04.2011
Дата закрытия:  22.04.2011
Место проведения:  ЦВК «Экспоцентр», Москва, Россия
Организаторы:  ООО «Руаль Интерэкс»

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"
Выставки