English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(564)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(130)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

VIT EXPO 2011

VIT EXPO 2011

24.03.2011

3-я специализированная выставка «VIT EXPO 2011 — ПРОМЫШЛЕННАЯ ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ, МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ И БЕСКОНТАКТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ» посвящена перспективному инновационному направлению в мире компьютерных технологий — машинному зрению, скоростной видеосъемке и промышленной обработке изображений, а также сопряженным технологиям бесконтактных измерений.

Основные разделы:

  •  Системы распознавания и анализа изображений;
  •  Высокоскоростные и промышленные видеокамеры;
  •  Компоненты систем машинного зрения;
  •  Бесконтактные измерения (лазерные, оптико-лазерные, оптоэлектронные);
  •  Промышленная видео- и оптическая эндоскопия.

В выставке принимают участие компании из России, Германии, Китая, Нидерланд, США, Южной Кореи.

С кратким анонсом экспонируемых систем и технологий можно ознакомиться по адресу: http://www.rual-expo.ru/vit/


Дата открытия:  20.04.2011
Дата закрытия:  22.04.2011
Место проведения:  ЦВК «Экспоцентр», Москва, Россия
Организаторы:  ООО «Руаль Интерэкс»

Возврат к списку

Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.05.1686
День рождения
24.05.1544
День рождения
Выставки