English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(418)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(505)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(239)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(379)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(89)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

FPD China 2012

FPD China 2012

01.01.2012

Международная выставка плоскопанельных дисплеев FPD China 2012 пройдет с 20 по 22 марта в Шанхае в Китае. Выставка FPD China 2012 - это крупнейшая и наиболее компетентная выставка индустрии производства плоских экранов. В выставке ежегодно участвует около 100 производителей, а количество посетителей превышает 34.000 человек. FPD China 2012 пройдет одновременно с известной выставкой электронных компонентов SEMICON China и выставкой фотоэлектричества SOLARCON China. Профиль выставки FPD China: различные виды современных плоскопанельных дисплеев, материалы и промышленное оборудование для изготовления дисплеев, контрольно-измерительное и тестовое оборудование, запасные части и комплектующие, панели и модули, жидкокристаллические компоненты, жидкокристаллические материалы, оборудование для производства жидкокристаллических товаров, OLED, PDP, цветовые фильтры - оборудование и материалы; программное обеспечение и консалтинг, чистые комнаты и соответствующая продукция, дисплеи LED и освещение.

Основные направления экспозиции:

  • жидкокристаллические и плазменные плоскопанельные дисплеи;
  • светодиоды, электронные компоненты и модули; комплектующие;
  • новые технологии и оборудование для производства дисплеев.


Дата открытия:  20.03.2012
Дата закрытия:  22.03.2012
Место проведения:  Китай, Шанхай, Shanghai New International Expo Centre (SNIEC)
Организаторы:  Semiconductor Equipment &, Materials International

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения
Выставки