English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Micromachine/MEMS 2012

Micromachine/MEMS 2012

20.01.2012

11-13 июля 2012 г. в Токио в ВЦ Tokyo International Exhibition Center Tokyo Big Sight пройдет выставка микро-электромеханических систем (МЭМС) и нанотехнологий "MicroMachine/MEMS 2012".

Япония - ведущая страна в мире по разработке МЭМС и нано-технологий - технологий будущего, обладающих высоким потенциалом: они могут применяться не только при производстве полупроводников и электронных компонентов, но и во многих других отраслях современной промышленности, от авиастроения до производства одежды и лекарств. Основные цели выставки: демонстрация уникальных достижений научных коллективов в области микро- и нано-технологий, содействие их продвижению на международный рынок, расширение выпуска новых фундаментальных материалов с заданными потребительскими свойствами.

Основные разделы выставки:

  • Оборудование для производства MEMS
  • Материалы
  • Наноимпринтная технология
  • Программное обеспечение для моделирования
  • Нанообработка, технология создания микроустройств
  • Биотехнологии, медицина
  • Оборудование для оценки и тестирования
  • MEMS и их применение

Дата открытия:  11.06.2012
Дата закрытия:  13.06.2012
Место проведения:  Япония, Токио, Tokyo Big Sight
Организаторы:  Mesago Messe Frankfurt Corporation

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.12.1852
день рождения
Выставки