English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(540)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(626)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(526)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(109)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

CONTROL&DIAGNOSTIC-2018

CONTROL&DIAGNOSTIC-2018

15.01.2018

7-я выставка промышленного оборудования и приборов для технической диагностики и экспертизы.

Тематика выставки:

  • Техническое диагностирование и неразрушающий кон­т­роль.
  • Визуально-оптический и измерительный контроль.
  • Инфракрасная диагностика.
  • Поисковое и испытательное оборудование.
  • Электротехническое оборудование.
  • Мобильные диагностические лаборатории.
  • Вибрационный мониторинг. Методы, средства, программное обеспечение.
  • Приборы для контроля технологических процессов и промышленных выбросов.
  • Средства для калибровки и поверки.
Выставка пройдёт в рамках 14-го Московского международного инновационного форума и выставки «Точные измерения – основа качества и безопасности»

Дата открытия:  15.05.2018
Дата закрытия:  17.05.2018
Место проведения:  г. Москва, ВДНХ, павильон № 75
Организаторы:  Вэстстрой Экспо

Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Выставки