English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(571)
Новости Anritsu(120)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(656)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(129)
Новости Росстандарта(150)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

CONTROL&DIAGNOSTIC-2018

CONTROL&DIAGNOSTIC-2018

15.01.2018

7-я выставка промышленного оборудования и приборов для технической диагностики и экспертизы.

Тематика выставки:

  • Техническое диагностирование и неразрушающий кон­т­роль.
  • Визуально-оптический и измерительный контроль.
  • Инфракрасная диагностика.
  • Поисковое и испытательное оборудование.
  • Электротехническое оборудование.
  • Мобильные диагностические лаборатории.
  • Вибрационный мониторинг. Методы, средства, программное обеспечение.
  • Приборы для контроля технологических процессов и промышленных выбросов.
  • Средства для калибровки и поверки.
Выставка пройдёт в рамках 14-го Московского международного инновационного форума и выставки «Точные измерения – основа качества и безопасности»

Дата открытия:  15.05.2018
Дата закрытия:  17.05.2018
Место проведения:  г. Москва, ВДНХ, павильон № 75
Организаторы:  Вэстстрой Экспо

Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Выставки
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.