English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(471)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(540)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(64)
Новости Rohde & Schwarz(430)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(82)
Новости Росстандарта(117)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

DesignCon 2014

DesignCon 2014

13.01.2014

DesignCon 2014 – это выставка и конференция по полупроводникам и технической разработке электронных устройств и приборов. Ведущее мероприятие отрасли, организованное инженерами для инженеров.

Ежегодно тысячи технических специалистов в области полупроводников и электронного инженерного проектирования приезжают, чтобы посмотреть на новейшие технологии и узнать о последних достижениях промышленности.

Подробнее о процессе регистрации можно посмотреть на официальном сайте мероприятия.

Ознакомиться с программой DesignCon 2014 можно здесь.

В рамках DesignCon пройдёт церемония награждения победителей конкурса Best in Test, который ежегодно проводится сообществом Test & Measurement World. Награждаться будут инновационные разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии.

Официальный сайт DesignCon 2014


Дата открытия:  28.01.2014
Дата закрытия:  31.01.2014
Место проведения:  Санта-Клара, Калифорния, США; Santa Clara Convention Center
Организаторы:  UBM Canon

Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
29.09.1901
День рождения
Выставки