English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(540)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(626)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(526)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(109)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

DesignCon 2014

DesignCon 2014

13.01.2014

DesignCon 2014 – это выставка и конференция по полупроводникам и технической разработке электронных устройств и приборов. Ведущее мероприятие отрасли, организованное инженерами для инженеров.

Ежегодно тысячи технических специалистов в области полупроводников и электронного инженерного проектирования приезжают, чтобы посмотреть на новейшие технологии и узнать о последних достижениях промышленности.

Подробнее о процессе регистрации можно посмотреть на официальном сайте мероприятия.

Ознакомиться с программой DesignCon 2014 можно здесь.

В рамках DesignCon пройдёт церемония награждения победителей конкурса Best in Test, который ежегодно проводится сообществом Test & Measurement World. Награждаться будут инновационные разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии.

Официальный сайт DesignCon 2014


Дата открытия:  28.01.2014
Дата закрытия:  31.01.2014
Место проведения:  Санта-Клара, Калифорния, США; Santa Clara Convention Center
Организаторы:  UBM Canon

Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
Выставки