English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(547)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Аналитика ЭКСПО 2014

Аналитика ЭКСПО 2014

30.01.2014

«Аналитика Экспо» является ведущей выставкой, на которой демонстрируются новые отечественные и зарубежные разработки в области аналитической химии, лабораторные технологии, оборудование и материалы. Это место встречи производителей, поставщиков и потребителей.

Тематика выставки охватывает все аспекты комплексного обеспечения лабораторий и лабораторного анализа во всех отраслях промышленности, научных исследованиях и медицине.

Разделы выставки:

  • Анализ и контроль качества
  • Лабораторные технологии
  • Биотехнологии / Бионаука / Диагностика
  • Нанотехнологии

Участники выставки – производители и поставщики оборудования, материалов и технологий для всех типов лабораторий.

На выставке представлен весь процесс создания лабораторий:

  • от проектирования, формирования климата, подготовки газов, воды, воздуха;
  • до выбора аналитического оборудования, лабораторной мебели, IT-решений и обеспечения текущей деятельности химическими реактивами, стандартными образцами, материалами.

Получить электронный билет

Официальный сайт выставки


Дата открытия:  15.04.2014
Дата закрытия:  18.04.2014
Место проведения:  Москва, КВЦ «Сокольники», павильоны 4 и 4.1
Организаторы:  MVK — Международная выставочная компания

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
12.12.1843
День рождения
Выставки