English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(547)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Testing & Control 2018

Testing & Control 2018

31.05.2018

Международная выставка Testing & Control — самая крупная в России выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования. В 2018 г. она пройдет в 15-й раз.

Посетители выставки — представители промышленных, строительных, экологических, научно-исследовательских лабораторий, сертификационных центров, конструкторских бюро, отделов технического контроля, стандартизации и метрологии из различных отраслей экономики.

Разделы выставки:

  • Испытательное оборудование
  • Оборудование для производственного контроля
  • Оборудование для неразрушающего контроля и технической диагностики
  • Машинное зрение
  • Измерительное и метрологическое оборудование
  • Оборудование для лабораторного контроля

Выставку Testing & Control будет сопровождать насыщенная деловая программа: тематические конференции, семинары и презентации.

Одновременно с выставкой «Testing & Control» пройдут выставки: Силовая Электроника, NDT Russia, ExpoCoating Moscow, PCVExpo, Mashex Moscow, HEAT&POWER, FastTec.

www.testing-control.ru


Дата открытия:  23.10.2018
Дата закрытия:  25.10.2018
Место проведения:  г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Организаторы:  ITE Москва

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
12.12.1843
День рождения
Выставки