English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"

Семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"

07.09.2014

11 сентября 2014 в Санкт-Петербурге пройдёт семинар "Анализ отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры".

Место проведения семинара: г. Санкт-Петербург, КЦ "ПетроКонгресс", ул. Лодейнопольская, 5 (ст. метро "Чкаловская"). Схема проезда.

План семинара:

10.00-11.30. Секция 1. Проблемы анализа отказов, подходы к решению.

  • Проблемы анализа качества и причин отказов КИ

a. Требования к анализу отказов КИ, основные проблемы анализа КИ
b. Выработка оптимальных методов и алгоритмов анализа

  • Аналитическое подразделение службы качества

a. Место в структуре организации, подчиненность. Состав, требования к сотрудникам
b. Техническая оснащенность
c. Положение о подразделении. Стандарт организации по анализу отказов ПКИ
d. Взаимодействие с другими подразделениями организации

  • Методы анализа, рекомендации по их применению в работе служб снабжения и качества

a. Визуально-оптический метод. Тестовые методы, метод «прозвонки». Рентгеноскопический метод. Статистические методы. Прочие методы

11.30-12.00. Кофе-брейк

12.00-13.30. Секция 2. Практический опыт анализа качества и причин отказов КИ.

  • Особенности анализа отдельных типов и групп КИ

a. Отечественные и импортные комплектующие. Резисторы. Конденсаторы. Индуктивные элементы. Магнитные сердечники. Диоды. Транзисторы. Микросхемы. Коммутирующие устройства. Прочие комплектующие изделия и материалы.

  • Проблема контрафактных комплектующих

a. Причины появления контрафактных комплектующих в закупках
b. Признаки контрафактных КИ. Анализ примеров выявленного контрафакта.
c. Профилактические действия против проникновения поддельных КИ в производство

13.30-14.30. Обед

14.30-16.30. Секция 3. Базы данных аналитической службы качества, информационные системы.

  • Структура базы данных комплектующих изделий. База данных отказов и документов
  • Демонстрация демо-версии базы данных и ПО для мониторинга случаев поставки контрафактных компонентов (Какшинский А.Л.)

16.30-17.00. Кофе-брейк

17.00-18.00. Секция 4. Обработка и использование результатов анализа

  • Обработка результатов, полученных из базы данных отказов комплектующих изделий

a. Классификация отказов комплектующих
b. Результирующие документы. Выработка корректирующих действий. Проверка исполнения

  • Оценка и отбор поставщиков КИ

a. Основные требования к поставщикам КИ. Стандарт организации по закупкам
b. Реестры поставщиков, практическая классификация поставщиков

Для участия необходимо заполнить бланк заявки и направить его по адресу seminar@sovel.org.

Задать вопросы можно по телефону (495)280-04-19.

Центр Современной Электроники



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ