English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Проект национального стандарта РФ

Проект национального стандарта РФ

25.09.2014

В соответствии с планом по стандартизации на 2014 г. специалисты ФГУП «ВНИИМС» подготовили на рассмотрение проект национального стандарта РФ «ГСИ. Диагностические и индикаторные тест-системы. Требования к показателям качества при измерительном контроле».

Различные тест-системы, в том числе экспресс – тесты, широко применяются в самых разных отраслях народного хозяйства. На рынке ежегодно появляются тест-системы, показатели качества которых не подтверждены необходимыми предварительными испытаниями и сертификатами, а сопроводительная документация в ряде случаев вызывает сомнения в части подтверждения заявленных характеристик и свойств таких тест-систем.

Разработка указанного стандарта позволит осуществить системный подход к организации процедуры подтверждения соответствия показателей качества тест-систем обязательным требованиям.

Замечания и предложения по проекту стандарта необходимо направлять на почту сотрудников лаборатории 009 ФГУП ВНИИМС: Кудеярову Юрию Алексеевичу - kudeyarov@vniims.ru, Зеленковой Марине Викторовне – zelenkova@vniims.ru.

ФГУП «ВНИИМС»



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии