English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(538)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(622)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(524)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(106)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

V Международная Конференция "Стандартизация, сертификация, обеспечение эффективности, качества и безопасности информационных технологий"

V Международная Конференция "Стандартизация, сертификация, обеспечение эффективности, качества и безопасности информационных технологий"

13.09.2014

С 21 по 22 октября 2014 в Москве пройдёт V Международная Конференция "Стандартизация, сертификация, обеспечение эффективности, качества и безопасности информационных технологий". Мероприятие будет проходить в МИРЭА по адресу пр. Вернадского, д. 78.

Основная тема конференции:

"Обсуждение стратегии развития, гармонизации и внедрения на территории РФ международных политик и стандартов в области ИКТ"

Традиционно, к началу конференции предполагается выпуск сборника трудов (входит в раздаточные материалы).

Статьи принимаются до 25 сентября 2014 г.

Требования к оформлению статей можно посмотреть здесь.

Подробную информацию о Конференции можно посмотреть по данной ссылке.

Источник: Комитет по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия (РСПП)


Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений