English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Выставка ЭкспоЭлектроника

Выставка ЭкспоЭлектроника

15.04.2009

Третий день выставки также был не обделен посетителями.

Кроме многочисленных специалистов российских предприятий выставку также посетили топ-менеджеры некоторых иностранных компаний.

Например, Эмануела Сперанза (Emanuela Speranza), вице-президент по маркетингу и продажам компании FLUKE и Петер ван ден Броек, старший вице-президент европейского отделения компании FLUKE (Peter van den Broek, Senior Vice President Fluke Europe). По словам представителей FLUKE выставка им понравилась и кроме того, дала возможность встретиться со всеми крупными компаниями-дистрибьюторами Fluke в России.

Мнение Петер ван ден Броека о стратегии развития FLUKE в Европе и России опубликовано в апрельском номере 2009 журнала КИПиС.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения