English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(458)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(532)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(418)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(79)
Новости Росстандарта(109)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Москва. ВВЦ. Весна 2009.

Москва. ВВЦ. Весна 2009.

19.05.2009

В капитально отремонтированном павильоне «Электрофикация» ВВЦ началась 5-я международная специализированная выставка «Метрология» в рамках выставки проводится Первый всероссийский симпозиум метрологов, посвященный 175-летнему юбилею со дня рождения Д.И. Менделеева. Симпозиум приурочен к 20 мая - Всемирному дню метрологии - этот праздник отмечается в связи с предложением, с которым выступили Япония и Россия в 1999 году.

С приветственными словами к собравшимся обратился заместитель директора ВНИИМС  В. Ю. Иванов. Он отметил, что девизом праздника метрологов в этом году является «Измерения в торговле». Далее в выступлении С.И. Соловьева рассказала о истории становления поверочных работ в России усилиями Д.И. Менделеева и иего последователей и представила интереснейшие материалы из музея "Тест-Санкт-Петербург".

В перерыве  симпозиума было организовано торжественное отрытие выставки.

 



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть