English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(489)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(569)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение аналитических работ»

Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение аналитических работ»

29.03.2015

С 7 по 10 апреля 2015 года в г.Санкт-Петербург пройдёт Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение аналитических работ».

Тематика семинара:

  • Новая документация по аккредитации лабораторий в соответствии с требованиями Федеральной службы по аккредитации лабораторий (Росаккредитация);
  • Внутренний контроль качества результатов измерений в аккредитованных лабораториях в соответствии с требованиями ГОСТ Р ИСО/МЭК 17025 и ГОСТ Р 5725;
  • Пробоотбор, подготовка оборудования, методики измерений;
  • Прослеживаемость в аккредитованных лабораториях.

Семинар проводят специалисты- эксперты Росаккредитации: Малеева А.И. и Малеев В.Г.

Для участия в работе семинара необходимо подать до 5.04.2015 г. заявку по факсу: (812) 407-85-52 или электронной почте: orgkomitet@list.ru (тема письма — «Заявка на семинар C-04/15»).

Участие в семинаре платное.

Заявку на участие, а также подробную информацию об условиях участия и оплаты можно посмотреть по данной ссылке.

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала