English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение аналитических работ»

Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение аналитических работ»

29.03.2015

С 7 по 10 апреля 2015 года в г.Санкт-Петербург пройдёт Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение аналитических работ».

Тематика семинара:

  • Новая документация по аккредитации лабораторий в соответствии с требованиями Федеральной службы по аккредитации лабораторий (Росаккредитация);
  • Внутренний контроль качества результатов измерений в аккредитованных лабораториях в соответствии с требованиями ГОСТ Р ИСО/МЭК 17025 и ГОСТ Р 5725;
  • Пробоотбор, подготовка оборудования, методики измерений;
  • Прослеживаемость в аккредитованных лабораториях.

Семинар проводят специалисты- эксперты Росаккредитации: Малеева А.И. и Малеев В.Г.

Для участия в работе семинара необходимо подать до 5.04.2015 г. заявку по факсу: (812) 407-85-52 или электронной почте: orgkomitet@list.ru (тема письма — «Заявка на семинар C-04/15»).

Участие в семинаре платное.

Заявку на участие, а также подробную информацию об условиях участия и оплаты можно посмотреть по данной ссылке.

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии