English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники. Проблемы качества»

Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники. Проблемы качества»

31.05.2013

6 июня в Москве состоится конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники. Проблемы качества».

Участники мероприятия: Омский научно-исследовательский институт приборостроения, Модуль НТЦ (Москва), НПО автоматики (Екатеринбург), РФЯЦ-ВНИИЭФ ФГУП (Саров), КБ Коммутационной аппаратуры (Севастополь), НИЦЭВТ (Москва), Концерн Аврора (СПб), Корпорация Комета (Москва), РНИИРС ФНПЦ (Ростов-на-Дону), Хроматэк СКБ (Йошкар-Ола), Завод № 423 (Тульская обл., г.Богородицк), Электроприбор ПО (Пенза), ЭЛАРА (Чебоксары), КБП ОАО (Тула), Государственный Рязанский приборный завод, Авангард ОАО (СПб), ПНППК (Пермь), ИТЭЛМА НПП (Москва), Тамбовский завод Ревтруд, Корпорация НПО РИФ (Воронеж), Меридиан НПФ (СПб), ЭЛИНС НТЦ (Москва) и многие другие. Список компаний ежедневно пополняется. Количество мест ограничено.

В России конференция по тестированию электронной продукции проводится впервые! Будет возможность ознакомиться с эффективными инструментами и методами тестирования электронных схем, позволяющих решить многие серьезные проблемы, такие как улучшение качества и надежности, упрощение ремонта и оптимизация производственных процессов.

Регистрация обязательная!

Для участия в конференции в качестве гостя необходимо заполнить заявку и отправить её до 4 июня 2013г по факсу (495)741-7702 или электронной почтой на адрес conf@ecomp.ru.

Заявку и предварительную программу мероприятия можно посмотреть здесь.

За дополнительной информацией обращайтесь в оргкомитет конференции:

Тел: (495) 741-77-01

e-mail: conf@ecomp.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ