English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(433)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(515)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Читайте в новом номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Читайте в новом номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы"

30.07.2009

В один из теплых летних дней, в непринужденной обстановке уютного дворика одного из московских ресторанов, давний читатель нашего журнала Шамиль Насретдин, глава московского представительства компании Тектроникс ответил на несколько вопросов. Читайте интервью, где г-н Ш.Насретдин высказал свое мнение о кризисе, о конкуренции и о стратегии развития компании Тектроникс, в частности, на российском рынке.

Заканчивается лето, вместе с осенью начинается новый учебный год. В связи с этим редакция журнала приглашает Вас принять участие в осенних семинарах из серии «Практические рекомендации для профессионалов». Темы ближайших семинаров: «Виртуальная измерительная лаборатория» и «Современные мультиметры». Дополнительную информацию можно получить в разделе «Семинары».

В условиях экономического кризиса, когда большинство предприятий вынуждены экономить средства, статья «Уникальные возможности бюджетных моделей цифровых осциллографов АКТАКОМ» поможет нашим читателям выбрать недорогое и многофункциональное измерительное оборудование.

О различных проблемах и методах спектрального мониторинга в ВЧ/СВЧ диапазоне, а также необходимом оборудовании для его выполнения читайте в статье «Основы спектрального мониторинга, радиочастотного регулирования и геолокации источников радиоизлучения».

2009 год проходит под эгидой 175-юбилея со дня рождения Д.И.Менделеева. Этой дате посвящена публикация доклада Л.К.Исаева о международной договоренности 1999 года о взаимном признании результатов измерений.

Мы продолжаем публикацию серии статей Л.Н.Брянского об истории метрологии. В этом номере вы можете ознакомиться со статьей «Некоторые аспекты истории основных метрических мер и единиц».

Не забудьте оформить подписку на 2010 год!



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
11.12.1882
День рождения