English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Cостоялось очередное заседание Аттестационной комиссии Федеральной службы по аккредитации

Cостоялось очередное заседание Аттестационной комиссии Федеральной службы по аккредитации

16.08.2015

21 июля 2015 г. состоялось очередное заседание Аттестационной комиссии Федеральной службы по аккредитации. В квалификационном экзамене участвовали 16 кандидатов в эксперты по аккредитации и 8 экспертов по аккредитации.

В соответствии с приказом Минэкономразвития от 23.05.2014 г. № 289 «Об утверждении требований к эксперту по аккредитации и правил аттестации экспертов по аккредитации», квалификационный экзамен состоял из трех этапов:

  • выполнение тестового задания на знание законодательства в сфере аккредитации;
  • устное собеседование по вопросам в рамках заявленной области аттестации;
  • демонстрация навыков работы в Федеральной государственной информационной системе Росаккредитации (ФГИС Росаккредитации).

Подробнее – на сайте Федеральной Службы по Аккредитации (РОСАККРЕДИТАЦИИ)



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии