English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(410)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(499)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(236)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(376)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(67)
Новости Росстандарта(86)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар журнала КИПиС на выставке РАДЭЛ’09: «Современные измерительные приборы»

Семинар журнала КИПиС на выставке РАДЭЛ’09: «Современные измерительные приборы»

10.11.2009

Приглашаем Вас на очередной семинар журнала КИПиС из серии «Практические рекомендации для профессионалов», который состоится 03 декабря 2009 г. в рамках выставки «Радиоэлектроника и приборостроение-2009», г. Санкт-Петербург.

Тема семинара: «Современные измерительные приборы».

Гостям выставки будет представлена самая свежая и эксклюзивная информация о новинках измерительной техники, тенденциях развития рынка и передовых разработках ведущих мировых брендов: Tektronix, Fluke, Keithley, AKTAKOM и многих других. Докладчик – главный редактор журнала КИПиС - Афонский Александр Алексеевич.

Для участия в семинаре Вам необходимо зарегистрироваться.

Семинар будет проходить в зале №1 с 15-00 до 17-00.

Адрес проведения выставки: г. Санкт-Петербург, Петербургский СКК, проспект Ю. Гагарина, дом 8.

Подробную информацию о способе проезда и времени работы выставки, Вы можете узнать на сайте организаторов выставки www.farexpo.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2017
КИПиС 2017 № 3
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала