English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(538)
Новости Anritsu(116)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(621)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(87)
Новости Rohde & Schwarz(524)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(106)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Cеминар «Автоматизация процессов разработки электронной аппаратуры и подготовки документации к производству»

27.11.2013

18 декабря 2013 г. пройдет новый семинар «Автоматизация процессов разработки электронной аппаратуры и подготовки документации к производству». Этот семинар не только про САПР. Будет представлены подходы по комплексной автоматизации процесса проектирования, включая вопросы интеграции различных информационных систем предприятия. Этот семинар рассчитан на руководителей отделов разработки и главных конструкторов предприятий.

Подробнее - на сайте Центра современной электроники


Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ