English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(569)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Заседание Межотраслевого совета по прикладной метрологии и приборостроению на тему «Состояние и развитие эталонной базы, используемой для метрологического обеспечения предприятий и организаций»

Заседание Межотраслевого совета по прикладной метрологии и приборостроению на тему «Состояние и развитие эталонной базы, используемой для метрологического обеспечения предприятий и организаций»

23.01.2016

По инициативе Комитета по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия, поддержанной Росстандартом, Межотраслевой совет по прикладной метрологии и приборостроению провел опрос предприятий и организаций различных отраслей экономики и других сфер деятельности по вопросам состояния эталонной базы, применяемой для поверки и калибровки средств измерений.

В опросе приняли участие более 400 предприятий и организаций всех отраслей и регионов нашей страны. Анализ результатов опроса дает характеристику состояния и содержит предложения по развитию и эффективному применению эталонов единиц величин - важнейшего элемента прикладной метрологии.

28 января 2016г. в Москве в целях обсуждения результатов анализа проведенного опроса состоится заседание Межотраслевого совета по прикладной метрологии и приборостроению на тему «Состояние и развитие эталонной базы, используемой для метрологического обеспечения предприятий и организаций».

Мероприятие пройдет в здании РСПП (Москва, Котельническая наб., д.17, конференц-зал №228).

Начало мероприятия в 10:00, регистрация – с 9:30.

Участие в заседании бесплатное, но требует обязательной предварительной регистрации. Для этого необходимо перейти по данной ссылке и заполнить форму заявки на странице справа.

Подробнее

Комитет по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть