English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(567)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Интервью Вице-президента компании Agilent Technologies журналу КИПиС

Интервью Вице-президента компании Agilent Technologies журналу КИПиС

07.11.2007

24 октября 2007 года Вице-президент и Генеральный директор Группы электронных измерений по направлению Европы, Ближнего Востока и Африки компании Agilent Technologies г-н Бенуа Нил (Benoit Neel) дал эксклюзивное интервью журналу «Контрольно-измерительные приборы и системы» и ответил на ряд вопросов, которые могут представлять интерес для наших читателей, в частности:

Как Agilent Technologies оценивает рост мирового рынка измерительного оборудования?
Что, по Вашему мнению, является основным в рыночных тенденциях сегодня и в будущем?
Что является ключевым направлением в стратегии развития компании Agilent Technologies?
Как Вы можете прокомментировать итоги прошедшего 2007 финансового года?
В чем Вы видите причину успеха компании?
Какой из ваших продуктов можно выделить как самый успешный?
Недавно в спектре продукции Agilent Technologies появились приборы эконом-класса. Почему компания решила вернуться на этот сегмент рынка?
Какие новые интересные разработки мы можем ожидать от Agilent Technologies в будущем году?
Какова маркетинговая стратегия Agilent Technologies в отношении России?
В июне этого года открылся новый сервисный центр компании на территории России. Как Вы можете прокомментировать это событие?

Интервью будет опубликовано в декабрьском номере нашего журнала.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.06.1623
День рождения
19.06.0240
до н.э.