English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Научно-практический семинар «Аккредитация метрологической службы юридического лица в области обеспечения единства измерений и признания ее компетентности в проведении работ по поверке средств измерений»

Научно-практический семинар «Аккредитация метрологической службы юридического лица в области обеспечения единства измерений и признания ее компетентности в проведении работ по поверке средств измерений»

19.11.2016

Научно-практический семинар «Аккредитация метрологической службы юридического лица в области обеспечения единства измерений и признания ее компетентности в проведении работ по поверке средств измерений» пройдёт с 6 по 8 декабря 2016 г. в Санкт-Петербурге.

Семинар предназначен для представителей организаций готовящихся к аккредитации, подтверждению компетентности или расширению области аккредитации.

Программа семинара:

  • Деятельность, подлежащая аккредитации.
  • Структура и система аккредитации.
  • Нормативные документы системы аккредитации
  • Система менеджмента качества. Руководство по качеству
  • Процедуры аккредитации
  • Аккредитация. Сроки, 2 экспертизы, отчетность, оценка
  • Подтверждение компетентности
  • Расширение области аккредитации
  • Требования к аккредитованным лицам
    и многие другие темы.

Подробная информация об условиях участия и месте проведения доступна по данной ссылке.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии