English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(538)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(623)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(524)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(106)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "Обработка и передача цифровых данных в устройствах на ПЛИС"

Семинар "Обработка и передача цифровых данных в устройствах на ПЛИС"

15.10.2016

Семинар «Обработка и передача цифровых данных в устройствах на ПЛИС», который состоится 19 октября 2016 в Москве.

Семинары по этой теме, организованные Информационно-аналитическим Центром Современной Электроники, будут сфокусированы на самых важных из новых технологий цифровой обработки сигналов. Они рассчитаны на опытных инженеров-практиков. Этот однодневный семинар посвящен проблемам высокоскоростной обработки и передачи цифровых данных в системах цифровой обработки сигналов.

Место проведения: Гостиничный комплекс "Измайлово-Альфа", Измайловское шоссе, 71 корп. А, зал №8.
Время проведения: 10.00 - 18.00. регистрация участников с 09.00

Основные вопросы семинара:

  • Развитие технологий цифровой обработки сигналов
  • Обработка цифровых данных на ПЛИС
  • Передача цифровых данных
  • Примеры построения систем обработки

Подробную информацию об условиях участия в семинаре можно получить по данной ссылке.

www.sovel.org



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений