English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Объявлены победители конкурса Best in Test 2010

Объявлены победители конкурса Best in Test 2010

03.04.2010

Редакция журнала «Test & Measurement World» объявила победителей ежегодных премий «Best in Test» и «Test of Time», которые присуждаются наиболее востребованным и инновационным продуктам и услугам индустрии оборудования для испытания, измерения и поверки электронной техники.

Мы писали о финалистах конкурсов «Best in Test» и «Test of Time» 2010 года в предыдущем номере нашего журнала («Контрольно-измерительные приборы и системы» №1, февраль 2010 г.) и на нашем сайте www.kipis.ru. Победители конкурса «Best in Test 2010» каждой из 17 категорий перечислены ниже. Из них, путём подсчета наибольшего количества голосов, будет определен Лучший измерительный прибор 2010 года; победитель будет объявлен 7 апреля на сайте журнала «Test & Measurement World» (www.tmworld.com).

Из 7 финалистов ежегодной премии «Test of Time», присуждаемой приборам и устройствам, в течение 5 и более лет подряд наиболее безупречно выполняющим свою работу, победителем 2010 года назван векторный анализатор сигнала 89600 компании Agilent Technologies.

Подробнее о премиях, присуждаемых журналом «Test & Measurement World», их финалистах и победителях, можно прочитать на сайте www.tmworld.com/awards.

Победителиконкурса «Best in Test 2010»:

2010 Best in Test Award Winners

www.tmworld.com



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии