English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(458)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(532)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(416)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(79)
Новости Росстандарта(108)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Программа повышения квалификации «Метрологическое обеспечение, калибровка и поверка средств измерений медицинского назначения»

Программа повышения квалификации «Метрологическое обеспечение, калибровка и поверка средств измерений медицинского назначения»

12.02.2017

ВНИИМ им. Д.И. Менделеева и Метрологическая академия РФ приглашает всех желающих принять участие в IV семинаре «Метрологическое обеспечение, калибровка и поверка средств измерений медицинского назначения клинико-диагностических лабораторий, прикроватного мониторинга и функциональной диагностики», который проводится в рамках обучения.

Адрес проведения: ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, Санкт-Петербург, Московский пр., д. 19.

Даты обучения: 29 мая – 02 июня 2017.

Обучение предназначено для специалистов, работающих в области контроля качества средств измерений медицинского назначения (СИМН).

Обучение посвящено актуальным вопросам в области разработки нормативно-технической документации, а также практическим вопросам метрологического сопровождения СИМН в ЛПУ страны.

Программа обучения рассчитана на 5 дней.

По окончании обучения слушатели сдают зачёт по практической части и получают удостоверение о повышении квалификации установленного образца.

Программа:

  1. Проблемы реализации ФЗ №102 в сфере здравоохранения
  2. Разработка и внедрения новых типов ГСО для обеспечения метрологической прослеживаемости в области здравоохранения.
  3. Проведение и результаты межлабораторных сличений в сфере клинико-диагностических исследований с использованием стандартных образцов утверждённого типа
  4. Метрологическое обеспечение СИМН, применяемых в клинико-диагностических лабораториях
  5. Метрологическое обеспечение СИМН функциональной диагностики
  6. Вопросы реализации метрологического контроля (надзора) СИМН
  7. Разработка типовых методик поверки СИМН
  8. Примеры и предложения от региональных представителей.

Заявки на доклады с тезисами должны быть направлены не позднее 01 марта 2017 по адресу: v.n.kustova@vniim.ru.

Для получения подробной информации по вопросам участия, откройте данную ссылку.

www.vniim.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений