English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(568)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Аккредитация ФГУП «ВНИИОФИ» на компетентность в области испытаний продукции фотоники

Аккредитация ФГУП «ВНИИОФИ» на компетентность в области испытаний продукции фотоники

18.02.2017

Федеральная служба по аккредитации завершила аккредитацию ФГУП «ВНИИОФИ» на компетентность в области испытаний продукции фотоники.

19 декабря 2016 года ФГУП «ВНИИОФИ» получен аттестат аккредитации Государственного испытательного центра оптической и светотехнической продукции ГИЦ «ОПТОСЕРТ».

Испытания, проводимые в данном испытательном центре, позволяют оценивать соответствие продукции фотоники в соответствии с платформой «ФОТОНИКА» и светотехнической продукции на соответствие требованиям Технических регламентов и соответствующих стандартов.

www.vniiofi.ru


Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть