English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(568)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новые возможности российских эталонов

Новые возможности российских эталонов

26.03.2017

Специалистами ФГУП «ВНИИОФИ» в процессе модернизации государственного первичного эталона единиц величин электромагнитных импульсов (ЭМИ), создано уникальное оборудование, позволяющее формировать импульсы с фронтом до 10-11 секунды, что в настоящее время является рекордным показателем в метрологии ЭМИ. Параллельно с совершенствованием эталона разработана методика экспресс диагностики электромагнитных свойств нанокомпозитных радиопоглощающих материалов.

С новыми возможностями данного эталона у российских разработчиков и производителей появились новые конкурентные преимущества, теперь не требуется специализированных помещений и громоздких образцов с покрытиями большой площади. Отныне испытания можно проводить как в обычных лабораторных условиях, так и на мобильном стенде. Отпала необходимость поэтапного узкополосного исследования образцов с радиопоглощающими покрытиями. В результате время исследования образцов с нанокомпозитными широкополосными радиопоглощающими материалами сократилось в 100 раз.

www.vniiofi.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть