English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(442)
Новости Anritsu(98)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(522)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(250)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(398)
Новости Tektronix(186)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(73)
Новости Росстандарта(98)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новая книга «Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике»

Новая книга «Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике»

20.07.2011

Представляем нашим читателям первую в России книгу по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий.

Издана новая книга "Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике" под авторством Афонского А.А. и Дьяконова В.П. В книге впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих фирм - разработчиков и производителей контрольно-измерительного оборудования: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, Rohde & Schwarz и др. Книга является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. 

Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др.

Новая книга "Измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике" будет интересна и полезна инженерам, научным работникам, аспирантам, преподавателям и студентам вузов и университетов технического и классического типов.



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Февраль 2018
КИПиС 2018 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.02.1955
Дата основания
18.02.1745
день рождения