English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Tektronix: analog+digital+RF = неожиданное решение. Один удивительный осциллограф

30.08.2011

Этим летом Tektronix представляет революционный осциллограф с функциями, которых вы никогда не видели прежде. И мы приглашаем Вас на это эксклюзивное онлайн-мероприятие. Для европейской аудитории мероприятие пройдет 31-го августа.

Помогите нам начать революцию в мире осциллографов.

Дата: 31-го августа 2011
Время: 9:00 утра (BST) / 10:00 утра (GMT+2)

Зарегистрируйтесь прямо сейчас: регистрация

На онлайн-мероприятии Tektronix Вас ждет:

  • Участие в вебинарах по решениям для встраиваемых систем с экспертом отрасли Дэвидом Саар
  • Чат с экспертами компании Tektronix и консультация по продуктам
  • Виртуальное тестирование прибора
  • Руководство по применению
  • Мнение других участников о новом приборе
  • Шанс выиграть призы на сумму более $30.000

Станьте одним из первых, кто увидит этот удивительный прибор в действии. Поспешите, первые пятьсот зарегистрировавшихся получат в подарок футболку Tektronix.

Подробности о мероприятии и регистрация участников доступны по ссылке: http://www.scoperevolution.com/emea/  

Tektronix
www.tek.com



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии