ВНИИМ им. Д.И.Менделеева отмечает 175-летие

С  14 по 15 июня 2017 года Санкт-Петербург примет ведущих экспертов и научных деятелей в области обеспечения единства измерений. Более 500 метрологов, известных ученых, специалистов в области технического регулирования, руководителей вузов и научных организаций  из России, стран Европы, США,  Японии, Кореи, Китая станут участниками Международной научно-технической конференции «175 лет ВНИИМ им. Д.И.Менделеева и Национальной системе обеспечения единства измерений». Организаторы конференции – Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт) и Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им.Д.И.Менделеева.  

В течение двух дней будет представлено  более 150 докладов по самым актуальным темам: переопределение основных единиц системы СИ,  метрология и точные измерения как драйвер отечественных инновационных технологий,  метрология в медицине, экологии, энергетике,  создание опережающего научного задела для развития цифровой экономики,  развитие Национальной системы обеспечения единства измерений и реализация государственной Стратегии обеспечения единства измерений РФ до 2025 года, зарубежный опыт, роль и место России в международном метрологическом сообществе и т.д. 

В церемонии открытия конференции примут участие: вице-губернатор Санкт-Петербурга Владимир Кириллов, заместитель руководителя Росстандарта Сергей Голубев, заместитель директора Департамента государственной политики в области технического регулирования, стандартизации и обеспечения единства измерений Минпромторга РФ Дмитрий Кузнецов, президент Метрологической академии Владимир Окрепилов, а также представители Международного бюро мер и весов, национальных метрологических институтов.

Источник: www.gost.ru