English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(547)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар «Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления»

Семинар «Разработка отказоустойчивых микропроцессорных систем управления»

23.11.2011

Семинар предназначен для разработчиков встраиваемых систем управления ответственного назначения. Задачи семинара: систематизация практического опыта и знаний разработчиков отказоустойчивых систем управления, расширение профессионального кругозора, практические рекомендации для разработчиков.

Авторы семинара и докладчики:

o Андрей Николаевич Терехов, профессор, д.ф-м.н., директор НИИ информационных технологий СПбГУ, генеральный директор ЗАО «Ланит-Терком»

o Борис Николаевич Кривошеин, директор НТЦ радиоэлектронной аппаратуры ЗАО «Ланит-Терком»

Программа семинара:

10-00 – 11-30 Методика разработки отказоустойчивых систем управления и анализ надежности. Докладчик: Б.Н.Кривошеин.

· Базовые понятия надежности. Классификация электронных систем по функциональной безопасности.

· Нормативные документы, применяемые при разработке систем ответственного назначения.

ГОСТ Р МЭК 61508- (1:7)-2007. Руководство по гарантии конструирования бортовой электронной аппаратуры КТ-254.

· Понятие гарантии проектирования. Оценка безопасности аппаратуры.

· Жизненный цикл конструирования аппаратуры. Основные и вспомогательные процессы.

· Основные процессы: планирование разработки, определение требований, проектирование.

· Вспомогательные процессы: обоснование, верификация, управление конфигурацией.

· Процесс гарантии и доказательство соответствия уровню гарантии разработки.

· Применение коммерчески готовых компонентов (COTS) в системах ответственного назначения.

· Методы анализа надежности. ГОСТ Р 51901.5- 2005, MIL-HDBK-217.

12-00 – 13-30 Аппаратные архитектуры отказоустойчивых электронных систем.

Докладчик: Б.Н.Кривошеин.

· Аппаратные архитектуры отказоустойчивых систем. Основные характеристики систем с резервированием, тройной модульной избыточностью (ТMR), четырехкратной модульной избыточностью (QMR).

· Классификация аппаратных архитектур по числу каналов и степени избыточности (XooY). Факторы, влияющие на оценку надёжности систем с аппаратной избыточностью.

· Различия оценок надёжности систем с высокой и низкой интенсивностью запросов.

· Способы снижения факторов, негативно влияющих на надёжность электронных систем.

· Критерии отказоустойчивости. Выбор архитектуры системы управления по требованиям функциональной безопасности. Проблемы построения отказоустойчивых систем.

14-30 – 16-00 Инженерная практика построения систем с высоким уровнем функциональной безопасности. Докладчики: А.Н.Терехов, Б.Н.Кривошеин

· Применение ПЛИС для реализации отказоустойчивых систем. Преимущества и недостатки решений на базе ПЛИС.

· Архитектура отказоустойчивого вычислительного комплекса (ОВК) архитектуры 2oo3 с пакетным мажорированием. Расчёт надежности ОВК.

· Модель взаимодействия ОВК с периферийным оборудованием. Программная и аппаратная поддержка архитектуры 2оо3.

· Процессы внутренней синхронизации, контроля, локализации и изоляции неисправностей в ОВК.

16-30 – 18-00 Разработка ПО отказоустойчивых электронных систем. Докладчик: А.Н.Терехов

· Вопросы надёжности ПО. Механизмы возникновения вероятностного поведения в программно-аппаратных системах. Ускоренное тестирование алгоритмов.

· Операционная система реального времени EmBOX.

· Развитие технологий программирования систем реального времени. Инструменты проектирования ПО отказоустойчивых систем.

· Технология графического проектирования QReal. CASE-подход.

· Понятие метаCASE-системы. Метаредактор.

· CoDesign и язык HaSCoL.

Для участия в семинаре необходимо заполнить заявку и направить по эл. почте seminar@sovel.org или по факсу (495) 280-04-19. На основании заявки будет выставлен счет, который необходимо оплатить в течение 5 банковских дней.

Более подробная информация о семинаре: http://www.sovel.org/01122011.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
12.12.1843
День рождения