English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

XV съезд Метрологической академии

XV съезд Метрологической академии

30.11.2013

03 декабря 2013 года в 14.00 часов состоится XV съезд Метрологической академии. Мероприятие состоится в «Большом» конференц-зале гостиницы Октябрьская по адресу: Санкт-Петербург, Лиговский пр, д.10.
Начало регистрации в 13.30.

Подробную программу мероприятия можно посмотреть, перейдя по данной ссылке

www.vniim.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии